杭州万深 杭州万深 SC-E型大米外观品质检测分析仪
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产 品 编 号 10294511416
产 品 型 号 SC-E
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SC-E型大米外观品质检测分析仪

1用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

2系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

3 主要性能指标:

配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm,最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度(国家发明专利号ZL 2013 1 0172280.X)、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。

自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016等标准相对应,检测各项指标的质量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图,以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。

具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm,自动数粒精度≥99%,交互修正后准确率达100%。

选配电脑推荐:一体机电脑(双核CPU / 4.0G内存/1G显存/ 500G硬盘/DVD刻录/ 19.5”彩显/无线网卡,4个以上USB2.0口,Windows 7完整专业版或完整旗舰版)

用户群体:各级农科院(下属作物所、植物所、栽培所、水稻所、油料所、生科所等)、种业公司、米业公司、烟草公司、粮库、育种站、大专院校(农学院)等。SC-E型大米外观品质检测分析仪

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