招标详细信息 返回>>
高端人才科研启动费购原子力显微镜需求公示
2016/1/5 9:11:49
项目名称 |
原子力显微镜 |
是否预选项目 |
否 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
采购人名称 |
深圳大学 |
采购方式 |
公开招标 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
财政预算限额(元) |
1680000 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
项目背景 |
原子力显微镜 项目是(深圳市财政委员会批复的高端人才科研启动费)项目。
设备主要用途是:原子力显微镜一种新型纳米显微技术,具有分辨率高、样本制作方便等优点。原子力显微镜的应用范围广泛,它不仅可以在常温大气环境下测量样品的表面微观形貌,还可以测量样品表面的物理、化学、机械、电子、生物等特性,拓展样品纵向的深度信息,被誉为“开启纳米世界的钥匙”,甚至可以在进行纳米微观刻蚀。该设备在所属项目中是作为聚合物刷图案制备与表征的关键设备。 该设备项目预算为168万。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
投标人资质要求 |
1)投标人”系指响应采购文件要求、参加本次招标采购的供应商。 (1) 投标人必须是来自中华人民共和国或是与中华人民共和国有正常贸易往来的国家或地区(以下简称“合格来源国/地区”)的法人或其他组织,在法律上和财务上独立、合法运作并独立于招标人和招标机构,具有相关经营范围,有资格和能力提供本采购项目的货物及服务的制造商或代理商(或经销商)。须提供营业执照或企业注册证明复印件(经营范围必须涵盖本次招标货物,加盖公章)。深圳大学是科教仪器设备减免税单位,如果是境外供货,投标人应有境外供货与外币结算资格或者是取得了境外供货贸易商的投标授权。 若投标人按照合同提供的货物不是投标人自己制造的,投标人应得到货物制造商同意其在本次投标中提供该货物的正式授权书原件或是合法代理商(若投标人为合法代理商应出具有效代理证明扫描件,制造商除外)。 (2)证明投标人已具备履行合同所需的财务、技术和生产能力的文件。 (3)投标人须提供设备在国内的销售业绩表、合同复印件或中标通知书复印件(表中应列出设备的出厂日期、用户名称、地址、联系人及联系方式等) (4)参与国际招标的投标人必须在中国国际招标网www.chinabidding.com 注册成为会员,具有深圳市政府采购注册供应商资格。
2)参与政府采购项目投标的供应商近三年内无行贿犯罪记录(由采购中心定期向市人民检察院申请对政府采购供应商库中注册有效的供应商进行集中查询,投标文件中无需提供证明材料); |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
货物清单 |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
具体技术要求 |
1.采购货物配置功能要求,各设备的主要技术参数、性能规格
技术指标
Specifications
原子力显微镜主机
Atomic force microscope main unit
原子力显微镜的应用范围广泛,可以在常温大气环境下测量样品的表面微观形貌,还可以测量样品表面的物理、化学、机械、电子、生物等特性,拓展样品纵向的深度信息。要求配备聚合物笔印刷功能
The atomic force microscopy has a wide range of applications, and can be used to measure the surface morphology of the samples under normal temperature and atmospheric environment. The physical, chemical, mechanical, electronic, biological and other characteristics of the sample surface can be measured, also expand the depth information of the sample. Required polymer pen lithography function
1、 工作模式
Working mode
★1.1真正的非接触式
True non-contact mode
1.2接触式
Contact mode
1.3轻敲式
Tapping mode
1.4横向力模式(LFM)
Lateral force mode
1.5力-距离曲线(F-D)
Force distance curve
1.6相位像
Phase image
★2、扫描器 Scanner
2.1闭环平板扫描器
Closed loop feedback scanner
2.2 XY扫描范围:100um×100um
XY scan range: 100 × 100 μm
2.3分辨率:闭环0.2nm,开环0.01nm
Resolution:0.2 nm (closed-loop), < 0.01 nm (open-loop)
2.4 Z扫描范围:12um,分辨率:0.001nm
Z Scan range: 12 μm, Resolution: 0.001nm
3、原子力显微镜头部
AFM Head
3.1 聚焦波长:
830nm Focusing wavelength:830nm
3.2工作范围:12um(噪音水平0.03nm)
Moving range:12um (Noise level: 0.03 nm)
3.3 含:一个高伺服的挠性导向Z扫描器;一个夹装探针的探针手;超亮二极管具有低相干性;预先对准的卡片装配,换探针时无需拿下头部
Including: one high servo flexible steering Z scanner; one probe hand with a clamp probe; a super light diode with a low coherence; a pre aligned card assembly, without taking the head when changing the probe.
★4、聚合物笔印刷头部
Polymer Pen Lithography Head
4.1聚合物笔印刷功能描述:通过对被转移材料的精确控制,可以在衬底表面构造出任意的纳米结构,达到微/纳米尺度加工精度。Polymer Pen Lithograph Function introduction: By the precise control of the transferred material,the structure can be constructed on the surface of the substrate to achieve the accuracy of micro / nano scale processing.
4.2工作范围:25um
Working range:25um
4.3 含:一个高伺服的挠性导向Z扫描器;PPL探针手,水平角度:0度;10个PPL探针架
Including: one high servo flexible steering Z scanner; one PPL probe hand, horizontal angle: 0 degree; ten PPL probe carriages
5、辅助观察系统
Assistant observation system
5.1样品和探针到成像部件的光路严格同轴
Top view of sample and probe by providing the natural on-axis view from the top with high clarity
5.2 放大倍数:300倍
Magnification: 300
5.3 分辨率:1um
Resolution: ~1 μm
5.4 可观察区域:480 × 360 μm
Field of View: 480 × 360 μm
5.5自动聚焦台的垂直行程:20mm
Vertical stroke of the auto focus table:20mm
6、成像系统
Imaging system
6.1 高分辨率数字变焦可调视场成像部件
Uses high resolution digital imaging system
6.2 最大分辨率:2440*1830
Effective Picture Elements: 2440 × 1830
6.3 视场:最大1680*1260 μm;最小550*412 μm
Field of View: max: 1680 × 1260 μm ;min: 550 × 412 μm (variable)
7、XY自动高精度样品台
XY Motorized XY Stage
★7.1 行程范围:150mm×150mm
Travels up to 150 mm × 150 mm in both X and Y direction
★7.2 样品尺寸:150mm×150mm
Sample size: Up to 150 × 150 mm
7.3 样品厚度:20mm
Sample thickness: Up to 20 mm thick
7.4 支撑重量:500g
Working sample load: Up to 500 g
8、马达控制Z方向样品台
Motorized Z Stage
★8.1 Z方向行程:27.5um
Z travel range: 27.5 mm
8.2 精度:0.1um
resolution :0.1 μm
8.3 重复性:2um
repeatability :2 μm
9、软件
Software
9.1专用的系统控制和数据获取软件,实时调整反馈增益、设置点、驱动频率/振幅/相位;AFM数据分析软件可运行在Windows。
XEP for data acquisition and optical view. XEI for image processing, analysis, and presentation. AFM data analysis software can be run in Windows
★9.2 聚合物笔印刷软件
Software for Polymer Pen Lithography
9.2.1支持笔画类型:点、线、点阵、线列、图案
Pattern type: Point, Line, Array of dots, Array of lines, and Bitmap
9.2.2支持笔画控制参数:
Control windows for patterning parameters
点及点阵的停留时间、Z方向的伸长/提起距离、Z方向的伸长/提起速度;
Point & point array: Dwell time, Z extension/lift height, and Z extension/lift speed
线及线列的停留时间、Z方向的伸长/提起距离、Z方向的伸长/提起速度、划线速度;
Line & line array: Dwell time, Z extension/lift height, Z extension/lift speed, and Line speed
图案每种颜色的停留时间、Z方向的伸长/提起距离、Z方向的伸长/提起速度;
Bitmap: Dwell time, Z extension/lift height, and Z extension/lift speed for each color value
9.2.3 用于调整样品及针尖的水平系统
Leveling system for sample/tip align
9.2.4 可以打开或保存为XML文件
File format: XML
10、附件:标准光栅、10根接触式探针和10根非接触式探针、10个样品台
Accessories: standard grating, 10 contact probes and 10 non-contact probes, 10 sample tables
原子力显微镜环境仓
Environmental Chamber (Glove Box) for AFM
1、 环境仓尺寸:完全包容原子力显微镜主机,控制整体气氛
Box size: Fully inclusive of the atomic force microscopy main unit, control the overall atmosphere
2、 环境仓厚度:≧15mm
Box thick:≧15 mm
3、 环境仓材质:亚克力材质
Box material: acrylic
4、含:乳胶手套、进样室、气体交换口
with latex gloves ,an Antechambe, electrical feed-throughs and gas exchange outlets
原子力显微镜湿度控制系统
Humidity Control System for AFM
1、 作用:控制环境仓的湿度
Controls the humidity of the Glove Box option
2、 湿度控制范围:从2到90%
Humidity control range: from 2 to 90 %
主动式减震台
Integrated Active Vibration Isolation
1、 作用:通过电磁换能器的直接速度反馈的主动隔振,以消除地面振动。
Provides active vibration isolation with direct velocity feedback via electromagnetic transducers to cancel out the floor vibration.
2、 减震频率:1.2~ 200HZ
Active 1.2 Hz to 200 Hz
标准隔音罩
Acoustic Enclosure (Bottom Enclosure)
1、 作用:环境密封隔音罩,以阻止外部声和噪音
Environmentally sealed acoustic enclosure to block external acoustic and light noise
2、 尺寸:820×920×1190毫米
Size: 820×920×1190mm
3、 含:大理石落地平台
Including: Marble landing platform |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
商务需求 |
备注:
1. “(一)免费保修期内售后服务要求”部分,请详细列明免费保修期内的售后服务要求,内容包括但不限于免费保修期限、售后服务人员配备、技术培训方案、质量保证、违约承诺、维修响应及故障解决时间、方案等。
2. “(二)免费保修期外售后服务要求”部分,请详细列明免费保修期外的售后服务要求,内容包括但不限于零配件的优惠率、维修响应及故障解决时间、方案、提供的服务等。 3. “(三)其他商务要求”部分,如有补充,请详细列明。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
技术规格偏离表 |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
商务规格偏离表 |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
评标信息 |
评标信息
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
其它 |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
附件 |
原子力显微镜.doc |